本實(shí)用新型公開(kāi)了一種二次電子發(fā)射性能參數測試裝置。本裝置包括球形電子收集器,其由外向內依次是:球形收集極、球形抑制極和球形接地極;球形電子收集器固定在真空室內的電子收集器固定裝置上,其上方設有入射電子孔,電子槍口由入射電子孔進(jìn)入球形電子收集器內部,球形電子收集器的下方設有樣品臺進(jìn)出孔;樣品臺升降旋轉裝置,包括安裝在真空室外的磁流體控制器、真空室內的螺桿傳動(dòng)機構及與之連接的齒輪旋轉機構,樣品臺與齒輪旋轉機構連接,樣品臺從球形電子收集器下方開(kāi)孔處進(jìn)入其內部;磁流體控制器通過(guò)螺桿傳動(dòng)機構及與之連接的齒輪旋轉機構驅動(dòng)樣品臺上下移動(dòng)及旋轉;樣品臺一面用于放置待測樣品,另一面上固定一次電子收集器。
院屬單位：中國科學(xué)院高能物理研究所
聯(lián)系人：閆保軍
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